电子设备可靠性预测与设计
DOI:
CSTR:
作者:
作者单位:

作者简介:

通讯作者:

中图分类号:

基金项目:


Author:
Affiliation:

Fund Project:

  • 摘要
  • |
  • 图/表
  • |
  • 访问统计
  • |
  • 参考文献
  • |
  • 相似文献
  • |
  • 引证文献
  • |
  • 资源附件
  • |
  • 文章评论
    摘要:

    可靠性是电子设备的重要指标。该文讨论可靠性指标预测方法、可靠性预测模型和可靠性设计方法,给出了高精度多功能开关电源失效率的预测实例,并预计出高失效率单元和关键元器件,指导其可靠性设计。

    Abstract:

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

周长林,常青美,左秀彦,等.电子设备可靠性预测与设计[J].电力系统保护与控制,2005,33(14):92-95.[.[J]. Power System Protection and Control,2005,V33(14):92-95]

复制
分享
相关视频

文章指标
  • 点击次数:
  • 下载次数:
  • HTML阅读次数:
  • 引用次数:
历史
  • 收稿日期:
  • 最后修改日期:
  • 录用日期:
  • 在线发布日期:
  • 出版日期:
文章二维码
关闭
关闭